หน้าแรก >> เครื่องมือวิเคราะห์โครงสร้างพื้นผิว

No.
เครื่องมือตรวจวิเคราะห์
ผู้ดูแล/เบอร์โทรติดต่อ
รายละเอียด
1TEM (Transmission Electron Microscope): JEM 2010คุณบุษบง กันทะลือ
รายละเอียด
ศูนย์วิจัยและบริการจุลทรรศนศาสตร์อิเล็กตรอน ชั้น 1 อาคาร 30 ปี คณะวิทยาศาสตร์ 053-943468
2Scanning Electron Microscope: JSM -IT300คุณภาณุพงษ์ แสนเมืองมูล
รายละเอียด
ศูนย์เครื่องมือกลาง ชั้น 1 อาคารปฏิบัติการกลาง คณะวิทยาศาสตร์ 053-941932, 084-4815
3Fourier Transform-Infra Red Spectroscopy-Microscope (FTIR-Microscope)คุณณัฐชนาฎ ธิจักร์
รายละเอียด
ศูนย์บริการวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี มหาวิทยาลัยเชียงใหม่053-943397 ต่อ 14
4Atomic Force Microscope (AFM)คุณเอกพงษ์ กันทารักษ์
รายละเอียด
ภาควิชาฟิสิกส์และวัสดุศาสตร์ ห้อง 2608 ชั้น 6 อาคาร 40 ปี คณะวิทยาศาสตร์053-941921-24 ต่อ 656, 081-0268083
5Dynamic Light Scattering Particle size analysis (Nanosizer-DLS)คุณเอกพงษ์ กันทารักษ์
รายละเอียด
ภาควิชาฟิสิกส์และวัสดุศาสตร์ ห้อง 2608 ชั้น 6 อาคาร 40 ปี คณะวิทยาศาสตร์053-941921-24 ต่อ 656, 081-0268083
6Ellipso Meterคุณวัทธิกร สร้อยหล้า
รายละเอียด
ภาควิชาฟิสิกส์และวัสดุศาสตร์ ห้องเครื่องมือกลาง PB 2 คณะวิทยาศาสตร์089-5609365
7Nano Particle Size Analyzerคุณจินดาพร ชัยศร
รายละเอียด
ศูนย์วิจัยวัสดุศาสตร์ ห้อง 2409 ชั้น 4 อาคาร 40 ปี คณะวิทยาศาสตร์ 093-1909386
8เครื่องวิเคราะห์พื้นที่ผิวและขนาดรูพรุนคุณนงคราญ ไชยวงค์
รายละเอียด
ภาควิชาเคมีอุตสาหกรรม คณะวิทยาศาสตร์053-943405